Обзор:

Благодаря использованию новой лицензированной UCSF технологии SIM и будучи созданной на основе признанного во всем мире исследовательского инвертированного микроскопа Nikon Eclipse Ti с объективом CFI Apo TIRF 100x oil (числовая апертура 1,49), разработанным при помощи уникальных оптических технологий и методов производства, система микроскопии N-SIM от Nikon может обеспечивать в два раза более высокое разрешение, чем обычные оптические микроскопы.

Система N-SIM также позволяет получать изображения с максимальной скоростью по сравнению с аналогами - ее временное разрешение 0,6 с/кадр.